Physik Instrumente E 754 Datenblatt Datasheet CN

E-754-Datasheet-CN E-754 Digital Piezo Controller

User Manual: Physik Instrumente E-754 Digital Piezo Controller

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数字式压电控制器
高速单轴控制器

E-754
 新一代数字控制器提供更高灵活性、精
确度和速度

 将校准数据从平台ID芯片上自动载入,
实现控制器和机械部件的互换性

 模拟输入和输出
 数字式输入/输出线路实现任务激活
 大量软件包
 带电容式传感器用于纳米定位系统

数字线性化可实现最高精度
基于高阶多项式的线性化算法利用电容式传感器将线性误差减小至0.01 %以下, 这通常比传统控制器好10倍。
对于以扫描应用为典型的快速周期性运动中,利用动态数字线性化(DDL,E-710.SCN)可将跟踪精度提高三倍。

用于动态应用的高速度和高带宽
高分辨率数模转换器和高性能电压放大器使该控制器特别适用于高动态操作。传感器采样率为50赫兹的高速处理器可
确保稳定时间达毫秒级或更低。

用于多种应用的灵活定制
对于配备ID芯片、采用数字电控进行校准的PI纳米级定位系统,ID芯片包含机械部件的校准和伺服控制参数。控制器
可以“智能地”读取数据,使自己自动适应已连接的机械部件,因此,更换系统部件后无需重新校准。
集成的波形发生器可以保存和输出周期运动轨迹。预配置的正弦和三角形波形用于帮助用户定义曲线,但用户也可自
定义波形。

扩展功能
强大的宏指令语言。非易失宏存储,例如可利用自动运行宏实现独立功能。数据记录器。操作中的参数改变。广泛的
软件支持,例如用于LabVIEW、用于Windows和Linux的共享库.

20.09.2017

规格
E-754.1CD
功能
轴
处理器
支持功能
采样率,伺服控制
采样率,传感器

数字式控制器带电容式传感器用于单轴压电陶瓷纳米定位系统
1
375兆赫兹,64位浮点,DSP/ARM
波形发生器、触发I/O、自动调零、数据记录器、宏
50千赫兹
50千赫兹

传感器

E-754.1CD

控制器类型
传感器类型
传感器通道
传感器带宽
传感器分辨率
外同步

P-I,两个陷波滤波器,可选配的APC
电容式
1
8千赫兹
19位
100千赫兹和4.8兆赫兹(LVDS)

放大器

E-754.1CD

输出电压
放大器通道
峰值输出功率,< 2毫秒
平均输出功率
峰值输出电流,< 2毫秒
平均输出电流
电流限制
分辨率DAC

-30到135伏
1
45瓦
15瓦
500毫安
20摄氏度时为120毫安
防短路
22位 有效

接口和操作

E-754.1CD

通信接口
压电陶瓷/传感器连接
模拟输入
模拟输出
数字输入
数字输出
指令集
用户软件
软件驱动器
显示器和指示灯
线性化
单独的保护性接地连接

以太网(TCP/IP)、SPI、USB、RS-232
Sub-D 7W2(母)
LEMO,单通道,±10伏,20位ADC
LEMO,单通道,±10伏,20位DAC
LEMO,两条线路,TTL
LEMO,两条线路,TTL
PI General Command Set (GCS)
PIMikroMove
LabVIEW驱动器,用于Windows和Linux的动态库
状态指示灯
4阶多项式;可选配的DDL
是

其他

E-754.1CD

工作温度范围
过热保护
质量
功耗,满载
功耗,空载
工作电压

5至40摄氏度
温度高于70 摄氏度时压电陶瓷输出自动停止
1.6千克
35瓦(最大值)
13瓦
24伏直流电来自外部电源(含在发货范围内)

询问定制设计!

20.09.2017

订购信息
E-754.1CD
单通道,数字式高速压电式控制器用于电容传感器,带TCP/IP、USB和RS-232接口
询问定制设计!

E-753.IO
用于数字化输入/输出线路的电缆,1.5米,开口端

20.09.2017



Source Exif Data:
File Type                       : PDF
File Type Extension             : pdf
MIME Type                       : application/pdf
PDF Version                     : 1.4
Linearized                      : Yes
Language                        : DE-DE
Tagged PDF                      : Yes
XMP Toolkit                     : Adobe XMP Core 5.6-c015 84.159810, 2016/09/10-02:41:30
Modify Date                     : 2017:09:20 17:40:43+02:00
Create Date                     : 2017:09:20 17:40:42+02:00
Metadata Date                   : 2017:09:20 17:40:43+02:00
Creator Tool                    : Acrobat PDFMaker 15 für Word
Document ID                     : uuid:e1978dee-e1be-4855-883a-0d1817c23914
Instance ID                     : uuid:1e49de53-9981-450a-b588-9773e287daee
Subject                         : 2
Format                          : application/pdf
Title                           : E-754 Datenblatt
Creator                         : Hoelzer, Christoph
Producer                        : Adobe PDF Library 15.0
Source Modified                 : D:20170920154034
Company                         : PI
Page Layout                     : OneColumn
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Author                          : Hoelzer, Christoph
Keywords                        : R0
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